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光透过式测量仪器
  

光透过型测量仪器

概述

透过型测量仪器测量圆柱形目标物的外径、一般目标物的高度、宽度或厚度等。这类仪器还可以用来进行偏摆、定位以及尺寸测量。 测量方法有:
1. 激光光束扫描目标物,根据激光光束被目标物遮断形成阴影的时间来计算目标物尺寸。
2. 激光光束汇聚成平行光束,并射到目标物上。利用 CCD 摄像传感器或光电二极管检测激光光束被目标物遮断形成阴影。下面分别 介绍采用激光扫描方法和 CCD 或光电二极管方法的装置的工作原理及特性。

分类

检测方法 CCD 方法 扫描方法 CCD 方法 二维的 CMOS 方法
特性
高速取样
可以测量透明目标物
高再现性和高精度
可以测量透明目标物
高速采样和紧凑的尺寸
可以测量透明目标物
99 个位置瞬时测量
综合测量菜单和辅助工具
当前稳定测量位置校正功能
外观 感测头 CCD 扫描 CCD 二维的 CMOS
控制器 控制器 控制器 控制器 控制器
型号 LS-7000 系列 LS 系列 IG 系列 IM 系列
再现性 0.01µm 0.05µm 1µm 0.1µm
测量精度 ±0.5µm ±2µm ±28µm ±2µm
测量范围 0.04 至 65 mm 0.08 至 120 mm 0.1 至 28 mm 截至 ø100 mm
取样速率 2,400 次扫描/每秒 1,200 次扫描/每秒 2,040 次扫描/每秒 约. 1 s


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